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  • Memory Module Tester - IM9600
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  • BOST
  • BOST

    상세설명
    제품개요
    BOST(Built Off Self Test)는 기존 ATE 설비의 일반적인 Hi-Fix 대신 BOST를 적용 함으로서 기존 설비의 제원 및 성능을 향상 시킬 수 있다. 기존 ATE Original Test Speed의 2배 증가를 실현함과 동시에, 동시 테스트 Para 수를 최대 8배까지 확장 함으로서, 생산성 극대화를 위한 이상적인 Solution이다.
    제품특징
    - Target System: T5581, T5585, T5377, T5375, T5593
    - Target Device: DDR1,2,3, LPDDR1,2,3, FLASH MEMORY
    - Frequency: Target System original Spec의 2배, 4배 증가
    - Pararllel Test: Target System original Spec의 최소4배, 최대 8배 증가 구현
  • Memory Test System - Neos2
  • Memory Test System - Neos2

    상세설명
    제품개요
    Neos2는 다양한 Device에 Flexible하게 대응 하도록 개발된장비로 생산성 향상을 통한 Low Cost Test를 지향한 장비이다.
    제품특징
    - Target Device: NAND, eMMC, DDR3/4, LPDDR3/4
    - Frequency: Up to 800Mbps (With TOF)
    - Power Channel: -1V ~ 4V, 1.2A, Up to 1024 Channel
    - Parallel Test: 512Para
  • Memory Test System - Neos3
  • Memory Test System - Neos3

    상세설명
    제품개요
    Neos3는 Core Test에서 Mid Band Test까지 Wide한 Test Capacity를 가지고 있으며 고객의 Test Mode와 결합하여 Speed Test를 Merge할수 있도록 한 장비이다.
    제품특징
    - Target Device: DDR3/4, LPDDR3/4, Flash (eMMC, NAND)
    - Frequency: Up to 2133Mbps
    - Power Channel: -1V ~ 4V, 1.2A, Up to 1024 Channel
    - Parallel Test: 384Para
  • SOC Test System - JH200
  • SOC Test System - JH200

    상세설명
    제품개요
    Open Architecture 적용으로 다양한 SOC 제품군 Needs를 만족하며 고객 특화 instrument 구성이 가능한 설비이다.
    제품특징
    - Target Device: SOC (AP , DDI , Smart-IC etc)
    - Frequency: 200MHz
    - Slot: up to 26 Slot
  • Memory Burn-in Test System - B3000
  • Memory Burn-in Test System - B3000

    상세설명
    제품개요
    Memory 제품군의 QC/QA용 Engineering용 Burn-In Tester 시스템이다.
    제품특징
    - Target Device: Flash (NAND, eMMC, SPI NAND etc) , DRAM
    - Frequency: 20MHz
    - Temperature: RT(Room Temp.) ~ +150℃
    - Slot: 4 Slot
  • Memory Burn-in Test System - JH5300
  • Memory Burn-in Test System - JH5300

    상세설명
    제품개요
    Memory Burn-in 설비로 Flash Memory 특화기능을 대폭 반영 고객의 다양한 요청사항에 대응 가능하며 Test time 감소와 양산성 극대화가 가능한 설비이다.
    제품특징
    - Target Device : Flash (NAND, eMMC, SPI NAND etc) , DRAM
    - Frequency : 20MHz
    - Temperature : -10 ~ +150℃
    - Slot : up to 60 Slot
  • Memory Module Tester - IM9600
  • Memory Module Tester - IM9600

    상세설명
    제품개요
    High Speed 실장(Mother Board Base)형 Memory Module Tester로 자동화(Module Handler)기반으로 생산성을 극대화 시킨 장비이다.
    제품특징
    - Target Device: UDIMM, R-DIMM, FB-DIMM etc.
    - Frequency: 3.2Gbps (Depend On MBD Spec)
    - Parallel Test: 12Para/Head (Depend On MBD Spec)
  • SSD In-Line Test System - SV3.X
  • SSD In-Line Test System - SV3.X

    상세설명
    제품개요
    SSD 연배열 제품을 UART Interface 를 이용 하여 BIST TEST 하는 설비이다. M.2, U.2, SATA, SAS 제품등 FormFactor에 무관하게 TEST 가능한다.
    제품특징
    - LOAD/UNLOAD: MAGAZINE 단위 자동화 운영
    - HANDLER: 연배열 제품을 TESTER 에 자동 Contact
    - TEMP: Hot Chambr 구성 ( 1HD 6Chamebr )
    - 물류: MANUAL , SEMI AUTO, OHT 등 운영